Passer au contenu
logo INRIA
logo Ariana
Publications ~ F. Chatelain Mardi 24 octobre 2017, 13h27

Publications de F. Chatelain

Document Actions
  • Print this page
Résultat de la recherche dans la liste des publications :


cherchernouvelle recherche | bibtex bibtex



affichage : 10 par page | 20 par page | 50 par page
Article
1 - Approche non supervisée par processus ponctuels marqués pour l'extraction d'objets à partir d'images aériennes et satellitaires.
S. Ben Hadj et F. Chatelain et X. Descombes et J. Zerubia. Revue Française de Photogrammétrie et de Télédétection (SFPT), (194): pages 2-15, 2011.
Mots-clés : processus ponctuel marqué, RJMCMC, Recuit Simule, SEM, pseudo-vraisemblance, extraction d'objet..

fleche haut de la page

3 Articles de conférence
1 - Parameter estimation for a marked point process within a framework of multidimensional shape extraction from remote sensing images.
S. Ben Hadj et F. Chatelain et X. Descombes et J. Zerubia. Dans Proc. ISPRS Technical Commission III Symposium on Photogrammetry Computer Vision and Image Analysis (PCV), Paris, France, septembre 2010.
Mots-clés : Shape extraction, Processus ponctuels marques, RJMCMC, Recuit Simule, EM Stochastique (SEM).
2 - Estimation des paramètres de processus ponctuels marqués dans le cadre de l'extraction d’objets en imagerie de télédétection.
F. Chatelain et X. Descombes et J. Zerubia. Dans Proc. Symposium on Signal and Image Processing (GRETSI), Dijon, France, novembre 2009.
3 - Parameter estimation for marked point processes. Application to object extraction from remote sensing images. (poster).
F. Chatelain et X. Descombes et J. Zerubia. Dans Proc. Energy Minimization Methods in Computer Vision and Pattern Recognition (EMMCVPR), Bonn, Germany, août 2009.

fleche haut de la page

Rapport de recherche et Rapport technique
1 - Estimation des paramètres de modèles de processus ponctuels marqués pour l'extraction d'objets en imagerie spatiale et aérienne haute résolution .
S. Ben Hadj et F. Chatelain et X. Descombes et J. Zerubia. Rapport de recherche 7350, INRIA, juillet 2010.
Mots-clés : Processus ponctuels marques, RJMCMC, Recuit Simule, EM Stochastique (SEM), pseudo-vraisemblance, Extraction d'objets.

fleche haut de la page

affichage : 10 par page | 20 par page | 50 par page


Ces pages sont générées par bib2sql
Copyright © 2005 - Projet Ariana - webmaster
  • WCAG
  • XHTML valide
  • CSS valide