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Publications ~ Saima Ben Hadj Samedi 16 décembre 2017, 17h59

Publications de Saima Ben Hadj

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Article
1 - Approche non supervisée par processus ponctuels marqués pour l'extraction d'objets à partir d'images aériennes et satellitaires.
S. Ben Hadj et F. Chatelain et X. Descombes et J. Zerubia. Revue Française de Photogrammétrie et de Télédétection (SFPT), (194): pages 2-15, 2011.
Mots-clés : processus ponctuel marqué, RJMCMC, Recuit Simule, SEM, pseudo-vraisemblance, extraction d'objet..

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2 Articles de conférence
1 - Restauration d'image dégradée par un flou spatialement variant.
S. Ben Hadj et L. Blanc-Féraud. Dans Proc. GRETSI Symposium on Signal and Image Processing, Bordeaux, France, septembre 2011.
2 - Parameter estimation for a marked point process within a framework of multidimensional shape extraction from remote sensing images.
S. Ben Hadj et F. Chatelain et X. Descombes et J. Zerubia. Dans Proc. ISPRS Technical Commission III Symposium on Photogrammetry Computer Vision and Image Analysis (PCV), Paris, France, septembre 2010.
Mots-clés : Shape extraction, Processus ponctuels marques, RJMCMC, Recuit Simule, EM Stochastique (SEM).

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2 Rapports de recherche et Rapports techniques
1 - Restoration mehod for spatially variant blurred images.
S. Ben Hadj et L. Blanc-Féraud. Rapport de Recherche 7654, INRIA, juin 2011.
Mots-clés : Deconvolution, energy minimization, spatially-variant PSF, Variation totale.
2 - Estimation des paramètres de modèles de processus ponctuels marqués pour l'extraction d'objets en imagerie spatiale et aérienne haute résolution .
S. Ben Hadj et F. Chatelain et X. Descombes et J. Zerubia. Rapport de recherche 7350, INRIA, juillet 2010.
Mots-clés : Processus ponctuels marques, RJMCMC, Recuit Simule, EM Stochastique (SEM), pseudo-vraisemblance, Extraction d'objets.

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