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Publications sur pseudo-vraisemblance
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Article |
1 - Approche non supervisée par processus ponctuels marqués pour l'extraction d'objets à partir d'images aériennes et satellitaires. S. Ben Hadj et F. Chatelain et X. Descombes et J. Zerubia. Revue Française de Photogrammétrie et de Télédétection (SFPT), (194): pages 2-15, 2011. Mots-clés : processus ponctuel marqué, RJMCMC, Recuit Simule, SEM, pseudo-vraisemblance, extraction d'objet..
@ARTICLE{RFPT_SBH_11,
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{Ben Hadj, S. and Chatelain, F. and Descombes, X. and Zerubia, J.}, |
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{Approche non supervisée par processus ponctuels marqués pour l'extraction d'objets à partir d'images aériennes et satellitaires}, |
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{2011}, |
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{Revue Française de Photogrammétrie et de Télédétection (SFPT)}, |
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haut de la page
Rapport de recherche et Rapport technique |
1 - Estimation des paramètres de modèles de processus ponctuels marqués pour l'extraction d'objets en imagerie spatiale et aérienne haute résolution . S. Ben Hadj et F. Chatelain et X. Descombes et J. Zerubia. Rapport de recherche 7350, INRIA, juillet 2010. Mots-clés : Processus ponctuels marques, RJMCMC, Recuit Simule, EM Stochastique (SEM), pseudo-vraisemblance, Extraction d'objets.
@TECHREPORT{RR-7350,
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{Ben Hadj, S. and Chatelain, F. and Descombes, X. and Zerubia, J.}, |
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{Estimation des paramètres de modèles de processus ponctuels marqués pour l'extraction d'objets en imagerie spatiale et aérienne haute résolution }, |
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{2010}, |
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{juillet}, |
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{INRIA}, |
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{Rapport de recherche}, |
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{7350}, |
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{http://hal.archives-ouvertes.fr/inria-00508431/fr/}, |
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{Processus ponctuels marques, RJMCMC, Recuit Simule, EM Stochastique (SEM), pseudo-vraisemblance, Extraction d'objets} |
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