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@ARTICLE{RFPT_SBH_11,
	author = { Ben Hadj, S. and Chatelain, F. and Descombes, X. and Zerubia, J. },
	title = { Approche non supervisée par processus ponctuels marqués pour l'extraction d'objets à partir d'images aériennes et satellitaires },
	year = { 2011 },
	journal = { Revue Française de Photogrammétrie et de Télédétection (SFPT) },
	number = { 194 },
	pages = { 2-15 },
	url = { http://hal.inria.fr/hal-00638665 },
	keyword = { processus ponctuel marqué, RJMCMC, Recuit Simule, SEM, pseudo-vraisemblance, extraction d'objet. }
 }

@TECHREPORT{RR-7350,
	author = { Ben Hadj, S. and Chatelain, F. and Descombes, X. and Zerubia, J. },
	title = { Estimation des paramètres de modèles de processus ponctuels marqués pour l'extraction d'objets en imagerie spatiale et aérienne haute résolution  },
	year = { 2010 },
	month = { juillet },
	institution = { INRIA },
	type = { Rapport de recherche },
	number = { 7350 },
	url = { http://hal.archives-ouvertes.fr/inria-00508431/fr/ },
	keyword = { Processus ponctuels marques, RJMCMC, Recuit Simule, EM Stochastique (SEM), pseudo-vraisemblance, Extraction d'objets }
 }

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