|
|
Publications de F. Chatelain
Résultat de la recherche dans la liste des publications :
Article |
1 - Approche non supervisée par processus ponctuels marqués pour l'extraction d'objets à partir d'images aériennes et satellitaires.
S. Ben Hadj et F. Chatelain et X. Descombes et J. Zerubia. Revue Française de Photogrammétrie et de Télédétection (SFPT), (194): pages 2-15, 2011.
Mots-clés : processus ponctuel marqué, RJMCMC, Recuit Simule, SEM, pseudo-vraisemblance, extraction d'objet..
@ARTICLE{RFPT_SBH_11,
|
| author |
= |
{Ben Hadj, S. and Chatelain, F. and Descombes, X. and Zerubia, J.}, |
| title |
= |
{Approche non supervisée par processus ponctuels marqués pour l'extraction d'objets à partir d'images aériennes et satellitaires}, |
| year |
= |
{2011}, |
| journal |
= |
{Revue Française de Photogrammétrie et de Télédétection (SFPT)}, |
| number |
= |
{194}, |
| pages |
= |
{2-15}, |
| url |
= |
{http://hal.inria.fr/hal-00638665}, |
| keyword |
= |
{processus ponctuel marqué, RJMCMC, Recuit Simule, SEM, pseudo-vraisemblance, extraction d'objet.} |
| } |
|
 haut de la page
3 Articles de conférence |
1 - Parameter estimation for a marked point process within a framework of multidimensional shape extraction from remote sensing images.
S. Ben Hadj et F. Chatelain et X. Descombes et J. Zerubia. Dans Proc. ISPRS Technical Commission III Symposium on Photogrammetry Computer Vision and Image Analysis (PCV), Paris, France, septembre 2010.
Mots-clés : Shape extraction, Processus ponctuels marques, RJMCMC, Recuit Simule, EM Stochastique (SEM).
@INPROCEEDINGS{sbenhadj10a,
|
| author |
= |
{Ben Hadj, S. and Chatelain, F. and Descombes, X. and Zerubia, J.}, |
| title |
= |
{Parameter estimation for a marked point process within a framework of multidimensional shape extraction from remote sensing images}, |
| year |
= |
{2010}, |
| month |
= |
{septembre}, |
| booktitle |
= |
{Proc. ISPRS Technical Commission III Symposium on Photogrammetry Computer Vision and Image Analysis (PCV)}, |
| address |
= |
{Paris, France}, |
| url |
= |
{http://hal.archives-ouvertes.fr/docs/00/52/63/45/PDF/ISPRS_SBH_FC_XD_JZ_Final2.pdf}, |
| keyword |
= |
{Shape extraction, Processus ponctuels marques, RJMCMC, Recuit Simule, EM Stochastique (SEM)} |
| } |
|
2 - Estimation des paramètres de processus ponctuels marqués dans le cadre de l'extraction d’objets en imagerie de télédétection.
F. Chatelain et X. Descombes et J. Zerubia. Dans Proc. Symposium on Signal and Image Processing (GRETSI), Dijon, France, novembre 2009.
@INPROCEEDINGS{cha09a,
|
| author |
= |
{Chatelain, F. and Descombes, X. and Zerubia, J.}, |
| title |
= |
{Estimation des paramètres de processus ponctuels marqués dans le cadre de l'extraction d’objets en imagerie de télédétection}, |
| year |
= |
{2009}, |
| month |
= |
{novembre}, |
| booktitle |
= |
{Proc. Symposium on Signal and Image Processing (GRETSI)}, |
| address |
= |
{Dijon, France}, |
| url |
= |
{http://hal.inria.fr/inria-00399258/fr/}, |
| keyword |
= |
{} |
| } |
|
3 - Parameter estimation for marked point processes. Application to object extraction from remote sensing images. (poster).
F. Chatelain et X. Descombes et J. Zerubia. Dans Proc. Energy Minimization Methods in Computer Vision and Pattern Recognition (EMMCVPR), Bonn, Germany, août 2009.
@INPROCEEDINGS{ChatelainEMMCVPR09,
|
| author |
= |
{Chatelain, F. and Descombes, X. and Zerubia, J.}, |
| title |
= |
{Parameter estimation for marked point processes. Application to object extraction from remote sensing images. (poster)}, |
| year |
= |
{2009}, |
| month |
= |
{août}, |
| booktitle |
= |
{Proc. Energy Minimization Methods in Computer Vision and Pattern Recognition (EMMCVPR)}, |
| address |
= |
{Bonn, Germany}, |
| url |
= |
{http://link.springer.com/chapter/10.1007%2F978-3-642-03641-5_17}, |
| keyword |
= |
{} |
| } |
|
haut de la page
Rapport de recherche et Rapport technique |
1 - Estimation des paramètres de modèles de processus ponctuels marqués pour l'extraction d'objets en imagerie spatiale et aérienne haute résolution .
S. Ben Hadj et F. Chatelain et X. Descombes et J. Zerubia. Rapport de recherche 7350, INRIA, juillet 2010.
Mots-clés : Processus ponctuels marques, RJMCMC, Recuit Simule, EM Stochastique (SEM), pseudo-vraisemblance, Extraction d'objets.
@TECHREPORT{RR-7350,
|
| author |
= |
{Ben Hadj, S. and Chatelain, F. and Descombes, X. and Zerubia, J.}, |
| title |
= |
{Estimation des paramètres de modèles de processus ponctuels marqués pour l'extraction d'objets en imagerie spatiale et aérienne haute résolution }, |
| year |
= |
{2010}, |
| month |
= |
{juillet}, |
| institution |
= |
{INRIA}, |
| type |
= |
{Rapport de recherche}, |
| number |
= |
{7350}, |
| url |
= |
{http://hal.archives-ouvertes.fr/inria-00508431/fr/}, |
| keyword |
= |
{Processus ponctuels marques, RJMCMC, Recuit Simule, EM Stochastique (SEM), pseudo-vraisemblance, Extraction d'objets} |
| } |
|
haut de la page
Ces pages sont générées par 
|
Rapport d'activité 2011
bibtex
