1 - Approche non supervisée par processus ponctuels marqués pour l'extraction d'objets à partir d'images aériennes et satellitaires.
S. Ben Hadj and F. Chatelain and X. Descombes and J. Zerubia. Revue Française de Photogrammétrie et de Télédétection (SFPT), (194): pages 2-15, 2011.
Keywords : processus ponctuel marqué, RJMCMC, Simulated Annealing, SEM, pseudo-vraisemblance, extraction d'objet..
@ARTICLE{RFPT_SBH_11,
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| author |
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{Ben Hadj, S. and Chatelain, F. and Descombes, X. and Zerubia, J.}, |
| title |
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{Approche non supervisée par processus ponctuels marqués pour l'extraction d'objets à partir d'images aériennes et satellitaires}, |
| year |
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{2011}, |
| journal |
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{Revue Française de Photogrammétrie et de Télédétection (SFPT)}, |
| number |
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{194}, |
| pages |
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{2-15}, |
| url |
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{http://hal.inria.fr/hal-00638665}, |
| keyword |
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{processus ponctuel marqué, RJMCMC, Simulated Annealing, SEM, pseudo-vraisemblance, extraction d'objet.} |
| } |
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