@ARTICLE{RFPT_SBH_11,
author = { Ben Hadj, S. and Chatelain, F. and Descombes, X. and Zerubia, J. },
title = { Approche non supervisée par processus ponctuels marqués pour l'extraction d'objets à partir d'images aériennes et satellitaires },
year = { 2011 },
journal = { Revue Française de Photogrammétrie et de Télédétection (SFPT) },
number = { 194 },
pages = { 2-15 },
url = { http://hal.inria.fr/hal-00638665 },
keyword = { processus ponctuel marqué, RJMCMC, Simulated Annealing, SEM, pseudo-vraisemblance, extraction d'objet. }
}
@TECHREPORT{RR-7350,
author = { Ben Hadj, S. and Chatelain, F. and Descombes, X. and Zerubia, J. },
title = { Estimation des paramètres de modèles de processus ponctuels marqués pour l'extraction d'objets en imagerie spatiale et aérienne haute résolution },
year = { 2010 },
month = { July },
institution = { INRIA },
type = { Rapport de recherche },
number = { 7350 },
url = { http://hal.archives-ouvertes.fr/inria-00508431/fr/ },
keyword = { Marked point process, RJMCMC, Simulated Annealing, Stochastic EM (SEM), pseudo-vraisemblance, Object extraction }
}
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