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Publications about pseudo-vraisemblance
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Article |
1 - Approche non supervisée par processus ponctuels marqués pour l'extraction d'objets à partir d'images aériennes et satellitaires.
S. Ben Hadj and F. Chatelain and X. Descombes and J. Zerubia. Revue Française de Photogrammétrie et de Télédétection (SFPT), (194): pages 2-15, 2011.
Keywords : processus ponctuel marqué, RJMCMC, Simulated Annealing, SEM, pseudo-vraisemblance, extraction d'objet..
@ARTICLE{RFPT_SBH_11,
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| author |
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{Ben Hadj, S. and Chatelain, F. and Descombes, X. and Zerubia, J.}, |
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{Approche non supervisée par processus ponctuels marqués pour l'extraction d'objets à partir d'images aériennes et satellitaires}, |
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{2011}, |
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{Revue Française de Photogrammétrie et de Télédétection (SFPT)}, |
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{194}, |
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| keyword |
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{processus ponctuel marqué, RJMCMC, Simulated Annealing, SEM, pseudo-vraisemblance, extraction d'objet.} |
| } |
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Technical and Research Report |
1 - Estimation des paramètres de modèles de processus ponctuels marqués pour l'extraction d'objets en imagerie spatiale et aérienne haute résolution .
S. Ben Hadj and F. Chatelain and X. Descombes and J. Zerubia. Rapport de recherche 7350, INRIA, July 2010.
Keywords : Marked point process, RJMCMC, Simulated Annealing, Stochastic EM (SEM), pseudo-vraisemblance, Object extraction.
@TECHREPORT{RR-7350,
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| author |
= |
{Ben Hadj, S. and Chatelain, F. and Descombes, X. and Zerubia, J.}, |
| title |
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{Estimation des paramètres de modèles de processus ponctuels marqués pour l'extraction d'objets en imagerie spatiale et aérienne haute résolution }, |
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{2010}, |
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{July}, |
| institution |
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{INRIA}, |
| type |
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{Rapport de recherche}, |
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{7350}, |
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{http://hal.archives-ouvertes.fr/inria-00508431/fr/}, |
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{Marked point process, RJMCMC, Simulated Annealing, Stochastic EM (SEM), pseudo-vraisemblance, Object extraction} |
| } |
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